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分析金属化薄膜电容器的主要失效

文章出处:智旭电子

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发表时间:2019-05-10 08:10

金属化薄膜电容是我们生活中常见常用的电容器之一,金属化薄膜电容器拥有自愈性的的优越性能而被大家熟知,本文谈谈两个关键的点,造成薄膜电容的失效原因有哪些,希望本文的内容能帮助到大家,一起往下看吧!

分析金属化薄膜电容器的主要失效1.jpg

1.局部放电造成

由于加工过程中介质中存在微小气隙,金属化电容器“过度自愈”造成气隙,导致金属化薄膜电容器在高电压作用下产生局部放电,电容器内部会迅速大量的热,来不及散发,又造成周围介质的进一步破坏,局部放电加剧,形成恶性循环。

2.损耗引起的电容器温升

一个理想的电容器在工作时没有量耗散,但由于介质损耗和电容器内部金属电阻和接触电阻的存在,使电容器呈现明显的组态特性。在有负载时导致金属化薄膜电容器发热,并经电容器外表将热量散到周围环境中去,从中间到外表之间建立一个温度梯度,当发热量小时,发散热平衡;当发热量大时,发散热不能平衡,电容器温度升高,导致失效,引起外壳膨胀、变形、开裂、膜熔融成团块,严重时会发现燃烧等现象。为此,损耗是发热的根源,造成金属化薄膜电容器失效的主要因素。

分析金属化薄膜电容器的主要失效2.jpg

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